800G / 1.6T 光模块回损测试方案

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800G / 1.6T 光模块回损测试方案

四个偏振态下测量 Tx / Rx 回损光谱,覆盖 1260–1360 nm,支持 16 通道并行测试。

回损测试架构

GM OPTICS 参考方案由可调谐激光器、偏振控制器、分束器、光开关、参考通路及光功率计连接至待测光模块。原稿连接图标示 FC/APC 连接及 MPO12/16/MMC 接口。

原稿测试条件

  • 在四个偏振态下,测试光模块 Tx、Rx 的回损光谱曲线。
  • 测试波长范围:1260–1360 nm。
  • 波长间隔:100 pm,每间隔 100 pm 测试一个波长。
  • 16 个通道并行测试。

相关方案与配套设备

误码与高低温测试 · 回损测试 · 配套测试仪器

参考资料

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来源:GM OPTICS《GM Solution for Source》,2026 年 9 月。技术图与参数按客户提供的原稿保留,作为方案参考展示,不表示上述仪器均为 Trendsemi 自研或自有产品;具体配置与供货范围需确认。