800G / 1.6T 光模块误码与高低温测试方案

测试连接架构

GM OPTICS 参考方案将 BERT、TEC 温控、光路盒、光模块平台与光开关组合，用于 QSFP-DD / OSFP 800G / 1.6T 光模块测试。连接图包含参考发射端（Ref Tx）、待测模块（DUT）、OPM × 8 光功率计与 VOA × 8 可变光衰减器通路，展示单通道和双通道配置，并支持更多端口定制。

原稿核心参数

• 高速误码测试：最高 212.5 Gbps / 106.25 Gbaud，覆盖 1.6T / 800G / 400G 模块验证。
• 双端口并行：原生双端口同时测试。
• 三温一体化：−45 至 +130 °C，温控稳定性 ±0.1 °C，温控精度 ±0.5 °C。
• 光口集成：无需额外光电转换配件，支持模块化使用。
• 均衡与灵敏度：发端 14 Tap 预加重调节，接收端最小灵敏度（差分）< 100 mV。
• FEC：支持 KP4 FEC，用于误码裕量与纠错能力评估。
• MCB 治具：适配 OSFP / OSFP-RHS / QSFP-DD 封装。

相关方案与配套设备

误码与高低温测试 · 回损测试 · 配套测试仪器

参考资料

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来源：GM OPTICS《GM Solution for Source》，2026 年 9 月。技术图与参数按客户提供的原稿保留，作为方案参考展示，不表示上述仪器均为 Trendsemi 自研或自有产品；具体配置与供货范围需确认。